行       業(yè)：電阻腐蝕監(jiān)測

設(shè)計(jì)內(nèi)容：硬件設(shè)計(jì)、ARM設(shè)計(jì)、電路設(shè)計(jì)

設(shè)計(jì)時(shí)間：2022

產(chǎn)品簡述：采用Cu薄膜式電阻柵格和精密電阻探針技術(shù)，結(jié)合交流激勵(lì)源技術(shù)和高精度AV電橋原理，具有極高的金屬減薄分辨率（1 nm），并能自動(dòng)補(bǔ)償環(huán)境溫度漂移，保證測量結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性，適用于金屬材料的氣相腐蝕連續(xù)監(jiān)測，顯示和記錄腐蝕等級?？諝飧g監(jiān)測儀同時(shí)支持溫濕度的監(jiān)測，并將記錄和傳輸數(shù)據(jù)?？苫赗S485組網(wǎng)，支持Modbus通訊協(xié)議，可通過總線方式實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化腐蝕監(jiān)測。

設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)：昱櫟技術(shù)